Park NX20

    Park NX20

    用於故障分析和大樣本研究的領先納米計量工具

    作為 FA 工程師,您應該交付成果。您的儀器提供的數據沒有出錯的餘地。

    Park NX20以世界上最精確的大樣本原子力顯微鏡而著稱,在半導體和硬盤行業的數據準確性評價如此之高。

    Park NX20 擁有業內最人性化的設計和自動化界面之一,因此您無需花費大量時間和精力使用該工具並監督初級工程師使用該系統。這使您可以將經驗集中在解決更大的問題上,並為您的客戶提供有洞察力和及時的故障分析。

    Park NX20 配備了獨特的功能,可以更輕鬆地發現設備故障背後的原因並開發更具創造性的解決方案。其無與倫比的精度提供高分辨率數據,讓您專注於工作,而其 True Non-Contact™ 模式掃描使提示更清晰、更長,因此您不必浪費太多時間和金錢來更換它們。


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