Park NX-Wafer

Park NX-Wafer 是唯一具有自動缺陷檢查功能的晶圓製造 AFM。

這使它能夠將您的實驗室的吞吐量提高多達 1000%，同時在掃描尺寸達 300 毫米的晶圓時確保高水平的準確性和質量控制。