Park 3DM

Park Systems 推出了革命性的 Park 3DM 系列，這是專為懸垂輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角測量而設計的全自動 AFM 系統。
借助帶有傾斜 Z 掃描儀的專利解耦 XY 和 Z 掃描系統，它克服了在精確側壁分析中正常和喇叭形尖端方法的挑戰。
在利用我們的真正非接觸模式™ 時，Park 3DM 系列可以對具有高縱橫比尖端的軟光刻膠表面進行無損測量。