Park NX-HDM

對於使用介質和平面基板的工程師來說，識別納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程。
Park NX-HDM 是一種原子力顯微鏡系統，可通過自動缺陷識別、掃描和分析將缺陷審查過程加快一個數量級。

Park NX-HDM 直接與各種光學檢測工具相連，從而顯著提高了自動缺陷檢查的吞吐量。
此外，Park NX-HDM 提供精確的亞埃表面粗糙度測量，一次次掃描。
Park NX-HDM 連同其業界最低的本底噪聲和獨特的 True Non-Contact™ 技術，是市場上用於表面粗糙度測量的最準確的 AFM。